Back Grinding，也叫减薄或背部研磨，其主要作用是为了将晶圆减薄至适合封装和实际应用的厚度。这项工艺直接关系到芯片的尺寸、性能、散热以及最终产品的可靠性，是现代半导体制造中不可或缺的关键环节
一、 背面研磨的核心价值
背面研磨工艺主要为了达成以下几个关键目标：
实现小型化与高密度封装
通过将晶圆从初始厚度（例如300mm晶圆约775μm）减薄至几十微米，单个芯片的厚度显著降低。这使得在有限空间内可以堆叠更多芯片（3D IC封装），极大提升了电子设备的集成度，满足了智能手机、可穿戴设备等对小型化的迫切需求
提升电气与热性能
晶圆减薄后，能够降低某些器件（如功率器件）的导通电阻或寄生电容，从而提升其电学性能。同时，减薄缩短了热量从芯片内部有源区传导到封装基板或散热器的路径，有助于改善芯片的散热效率
优化后续工艺与可靠性
更薄的晶圆在后续的划片（切割）工序中承受的机械应力更小，有助于降低芯片边缘崩边、碎裂的风险，提高切割质量和良率。此外，对于需要背面电极的芯片（如功率器件），减薄也是进行背面金属化制备电极的前提步骤
二、 背面研磨的工艺流程
典型的背面研磨工艺包含三个主要步骤，并需要特殊的材料保护晶圆正面电路
贴覆保护胶带
研磨前，会在晶圆正面（已制作好精密电路的一面）贴上一层特殊的保护胶带（如UV膜或蓝膜）。这层胶带能有效防止研磨过程中的碎屑和冷却液污染电路，同时提供机械支撑，减少晶圆翘曲或破裂的风险
分步研磨减薄
研磨过程通常分阶段进行以确保效率和表面质量：
粗磨：使用粒度较大的金刚石砂轮，快速去除大部分材料，实现初步减薄
精磨：使用更细粒度的砂轮，去除粗磨留下的损伤层和表面不平整，获得更光滑、损伤更小的表面，并精确控制最终厚度
抛光（可选）：对于要求极高的应用，可能会增加抛光步骤（如化学机械抛光CMP），以进一步去除损伤层，获得超光滑表面
清理与去膜
研磨完成后，晶圆需经过清洗以去除残留的硅屑和污染物。随后，通过紫外线照射等方式降低保护胶带的粘性，将其从晶圆正面安全剥离
三、 工艺挑战与未来发展
随着半导体技术发展，背面研磨也面临挑战并持续演进：
超薄晶圆处理：晶圆越薄，机械强度越低，在传送、切割过程中极易碎裂翘曲，对工艺控制和设备精度提出极高要求。为此发展出了如Taiko工艺（研磨时保留晶圆外围边缘以增加支撑强度）等特殊技术来应对这些挑战
新材料适配：碳化硅（SiC）、氮化镓（GaN）等宽禁带半导体材料硬度高、脆性大，其减薄工艺比硅更为困难，需要开发新的磨料和技术
低损伤需求：研磨是机械过程，会在晶圆亚表面引入损伤层。为最小化损伤，常需结合抛光、湿法或干法刻蚀等后续处理
