已经成功申请SPIE出版，延续往年出版物，见刊检索速度较稳定
出版历史好，EI检索稳定有保障（SPIE出版社在EI检索列表里）
国家杰青高飞飞教授出席会议并报告，欢迎参会交流~
第六届检测技术与自动化工程国际学术会议（TTAE 2026）
2026 6th International Conference on Testing Technology and Automation Engineering
会议时间：2026年6月12-14日
会议地点：珠海
大会官网：www.ttae.org【参会投稿】
截稿时间：见官网
收录检索：EI Compendex，Scopus（两大数据库实现双检索！）
检索历史：（往届均由SPIE出版）
组织单位
主办单位：珠海科技学院
报告嘉宾（持续邀请中）
征稿主题
自动化工程 | 检测技术 | 电气工程 |
导航、制导与控制惯性技术及导航设备运动载体导航与定位信息融合与智能控制智能仪器控制技术GNSS技术及其应用精密仪器及机械微型机电系统和微型机器人仿生、智能机械、特种机器人智能机械及其运动控制仪器嵌入式技术及网络控制技术系统工程理论与应用新型传感器及数据融合技术模糊逻辑控制系统模糊与神经网络工程导论制造工业自动化设备与系统无线传感器网络技术 | 现代检测技术集成化系统开发的技术基础自动测试理论测试计量技术及仪器复杂系统建模与仿真MATLAB系统分析语言及应用多传感器融合理论与应用人工神经网络在线检测及无损检测技术光电检测及计算机视觉检测技术遗传算法与进化算法控制网络与现场总线微纳米检测智能化仪表遥感和遥测技术建模与仿真 | 电气控制系统的设计与优化机器人自动测试理论工业自动化光电传感器电厂自动化无线通信嵌入式系统智能家居物联网动态监测供电与电力电力电子设备电机驱动及变频器系统集成电力系统 |
包括但不限于以上征稿主题，如有其他与会议相关主题亦可投递。
论文出版
本会议所有的投稿都必须经过2-3位组委会专家审稿，经过严格的审稿之后，最终所录用的论文将递交至SPIE - The International Society for Optical Engineering (ISSN: 0277-786X)出版社，出版后提交至EI Compendex、Scopus检索。
论文要求全英文，符合格式：论文模板；一篇录用文章允许一名作者免费参会；
