DFT笔记90

10 BOUNDARY SCAN AND CORE-BASED TESTING

Boundary scan：也被称为IEEE 1149.1或者JTAG standard，是IEEE提出的最成功的测试标准。

这个标准最先开始的目标是针对数字电路的板级测试，现在也被工业领域应用到大多数的large IC chips并且应用到其他更多的应用领域比如：

1. power management
2. clock control
3. debugging
4. verification
5. chip reconfiguration

这本书出版的时间最近又出现了拓展的boundary-scan standard（for the I/O protocol of high-speed networks），叫做1149.6，它更进一步地提升了boundary scan的能力。

Core-based test：这个问题是因为IC设计转向了system-on