1. ADC扫描模式的工程本质与设计动机
在嵌入式系统中，ADC（模数转换器）绝非简单的“电压读取外设”，而是一个需要深度理解其内部时序、数据流与控制逻辑的精密模拟前端模块。扫描模式（Scan Mode）正是STM32系列MCU为解决多通道同步采样这一典型工业需求而设计的核心机制。它并非一个孤立的功能开关，而是与ADC的序列管理、触发源协同、数据寄存器映射等底层硬件结构紧密耦合的系统级特性。
要真正掌握扫描模式，必须回归其硬件根源。观察STM32F103系列的ADC框图，其核心是“规则序列”（Regular Sequence）与“注入序列”（Injected Sequence）两大独立的数据采集流水线。每条流水线都维护着一个16级深度的通道索引表——即“序列”。这个序列并非静态配置，而是一个动态执行计划：当ADC被启动后，它将严格按照序列中定义的通道顺序、采样时间与转换次序，逐项执行转换任务。
扫描模式的本质，就是启用这个序列的“自动递进”能力。当扫描模式被禁用时，无论序列中配置了多少个通道，ADC仅将序列首项（Rank 1）视为有效目标，其余所有配置均被硬件忽略。此时，ADC的行为退化为单通道模式，即使你向序列中写入了16个通道，它也只转换第一个。这解释了为何在基础单通道实验中，我们总是将序列长度（N）设为1，并关闭扫描模式——这是一种明确的、低开销的单点测量策略。
而当扫描模式被使能后，ADC的执行逻辑发生根本性转变。它不再止步于Rank 1，而是依据序列长度N的值，自动遍历序列的前N项，依次对每个指定通道执行一次完整的采样-转换流程。整个过程由一个统一的转换周期驱动，各通道的转
